兒童智力測(cè)試儀表示智力低下是多種原因引起的發(fā)育時(shí)期的腦功能異常,一般是在發(fā)育階段出現(xiàn)的,經(jīng)標(biāo)準(zhǔn)化智力測(cè)驗(yàn)所測(cè)試的智商(IQ)<70,且伴有明顯的社會(huì)適應(yīng)功能障礙。調(diào)查研究顯示,陜西省0~6歲兒童智力低下現(xiàn)患率為8.95‰,其中輕度占57.58%;北京市0~6歲兒童智力低下現(xiàn)患率為9.31‰,智力低下嚴(yán)重程度構(gòu)成分別為輕度65.54%、中重度以上占34.46%?梢(jiàn),國(guó)內(nèi)兒童智力低下以輕度為主。另有研究顯示,農(nóng)村1~4歲留守兒童智力低下和邊緣智力的檢出率分別為3.8%,20.8%,農(nóng)村1~4歲非留守兒童智力低下和邊緣智力的檢出率也高達(dá)1.9%和10.4%?梢(jiàn),兒童邊緣智力(IQ為70~79)的檢出率遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于智力低下的檢出率,且具有隱蔽性,應(yīng)引起兒童保健工作者的廣泛關(guān)注。